Ultramicroscopy

ISSN: 1879-2723



Publikationen


Band: 176, Seitenbereich: 161-169
Local temperature measurement in TEM by parallel beam electron diffraction (2017)
Niekiel F, Kraschewski S, Müller J, et al.

Band: 164, Seitenbereich: 31-45
Designs for a quantum electron microscope (2016)
Kruit P, Hobbs RG, Kim CS, et al.

Band: 159, Seitenbereich: 324-337
Mining information from atom probe data (2015)
Cairney JM, Rajan K, Haley D, et al.

Band: 144, Seitenbereich: 19-25
STXM goes 3D: Digital reconstruction of focal stacks as novel approach towards confocal soft x-ray microscopy (2014)
Späth A, Schöll S, Riess C, et al.


Zuletzt aktualisiert 2014-11-12 um 07:28