Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Abkürzung der Fachzeitschrift: NUCL INSTRUM METH B
ISSN: 0168-583X
Verlag: Elsevier



Publikationen

Go to first page Go to previous page 1 von 4 Go to next page Go to last page

Band: 365, Seitenbereich: 240-243
A DLTS study of hydrogen doped czochralski-grown silicon (2015)
Jelinek M, Laven JG, Kirnstoetter S, et al.

Heftnummer: 365, Band: 365, Seitenbereich: 44-49
Comparison of silicon and 4H silicon carbide patterning using focused ion beams (2015)
Kaliya Perumal Veerapandian S, Beuer S, Rumler M, et al.

Band: 324, Seitenbereich: 4-10
A laboratory X-ray microscopy setup using a field emission electron source and micro-structured reflection targets (2014)
Stahlhut P, Ebensperger T, Zabler S, et al.

Band: 332, Seitenbereich: 122-125
The potential of Rutherford Backscattering Spectrometry for composition analysis of colloidal nanocrystals (2014)
Primetzhofer D, Sytnyk M, Wagner PJ, et al.

Band: 237, Seitenbereich: 68-71
Implantation and Annealing of Aluminum in 4H Silicon Carbide (2005)
Rambach M, Schmid F, Krieger M, et al.

Band: 237, Seitenbereich: 341-345
Investigations into the wear of a WL10 ion source (2005)
Haeublein V, Sadrawetz S, Frey L, et al.

Heftnummer: 1-4, Band: 228, Seitenbereich: 373-377
Ion Sputtering at Grazing Incidence for SIMS-Analysis (2005)
Ryssel H, Ullrich M, Burenkov A

Band: 190, Seitenbereich: 26-33
Development of enhanced depth-resolution technique for shallow dopant profiles (2002)
Fujita M, Tajima J, Nakagawa T, et al.

Band: 178, Seitenbereich: 135-137
Computer simulation of Ostwald ripening for ion beam synthesis of buried layers (2001)
Pohl T, Hammerl C, Rauschenbach B, et al.


Zuletzt aktualisiert 2016-22-11 um 09:25