A Novel BIST Technique for SNR DAC Testing. - Li, Hongzhi; Eckmüller, Josef; Sattler, Sebastian; Eichfeld, Herbert; Weigel, Robert (Workshop Entwurf Integrierter Schaltungen und Systeme, 2003)
elib2cris::1512001600,li2003a
Keywords: BIST; SNR; DAC; Testing